国家知识产权局信息显示，武汉华中数控股份有限公司申请一项名为“数控系统自动化测试方法、系统、电子设备及介质”的专利，公开号CN121657633A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本发明涉及数控系统技术领域，公开了一种数控系统自动化测试方法、系统、电子设备及介质。该方法包括获取理论指令插补轨迹；获取实际指令插补轨迹；根据FastDTW算法得到每个G代码对应的理论指令插补轨迹和实际指令插补轨迹的最大局部误差；将每个G代码对应的最大局部误差与预设工艺阈值进行对比得到测试结果。本发明调整后的FastDTW算法的计算结果即最大局部误差，直接与实际测试应用中的工艺需求标准的预设工艺阈值对比，无需额外进行阈值确定的工作。FastDTW算法本身自带的搜索半径参数可平衡算法性能与准确率确保最大程度满足测试需求。实现和部署成本极低，快速上线代替人力进行实际测试应用，提高数控系统测试效率。
天眼查资料显示，武汉华中数控股份有限公司，成立于1994年，位于武汉市，是一家以从事通用设备制造业为主的企业。企业注册资本19869.6906万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉华中数控股份有限公司共对外投资了39家企业，参与招投标项目1411次，财产线索方面有商标信息68条，专利信息360条，此外企业还拥有行政许可13个。
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